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航空芯片平面度测量,高精度抵抗恶劣环境

返回列表 来源:极志测量 浏览:- 发布日期:2023-09-19 21:13:59【

相信很多人都存在一个误区,认为航空航天作为人类最前沿尖端的科技,其设备身上所搭载的芯片必定是目前所有领域中计算能力最高的,其实并不是,现在随便一台新的家用电脑其所搭载的芯片都会比航空航天飞行器上的芯片运算能力强。因为航天芯片在航天领域,并不是工艺制程越小越好。通常来讲,工艺制程越小,抗辐照能力越差。因此,为了确保可靠性,一般会选择较大线宽的制程,比如0.18um90nm65nm等,而不会一味追求摩尔定律的前沿制程。而且还要耐高低温、耐高频振动,即使在外太空这种真空环境也能正常使用,所以航空航天的芯片会更加注重其抵抗恶劣环境的能力而不是运算能力,平面度就是其中一个关键。一般的测量工具无法达到芯片所需的测量精度需求,极志激光平面度测量仪就成为了航空芯片平面度测量的理想选择。

航空航天平面度测量

激光平面度翘曲度测量仪有别于接触型工具,测量全程无需接触芯片表面,保留了芯片表面平整度之余还能通过激光测量高精度测量,无论是点扫还是线扫都能够自如切换,多激光平面度测量仪抽检和全检都能应付自如,最快速度0.5/片,测量精度达到μm级,可以帮助芯片制造企业快速提升产品整体质量,用实力去巩固合作关系,获得更大的订单。极志拥有多年的平面度测量设备定制经验,如遇工件外形测量难题欢迎致电极志全国服务热线:020-83515319

多激光平面度测量仪

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